16 мая в 13:00 пройдёт вебинар «Модуль патентной аналитики».
На этой сессии мы погрузимся в основы и расширенные приложения патентной аналитики.
В частности, мы затронем следующие вопросы:
1. Рекомендуемые диаграммы;
2. Разделение и мульти выбор;
3. Метрики оценки патентов;
4. Технологический ландшафт.
Ключевые слова: патент, аналитика, технологический ландшафт, цена патента.
Регистрация не требуется.
